英偉達CEO：Blackwell芯片設計缺陷已修復，預計Q4發(fā)貨

2024-10-24 10:10:59

每經AI快訊，英偉達首席執(zhí)行官黃仁勛周三表示，在臺積電的幫助下，英偉達最新款Blackwell AI芯片的設計缺陷已得到修復，該缺陷此前曾影響生產。他表示，“我們在Blackwell有一個設計缺陷，它是功能性的，但設計缺陷導致良品率很低。這100%是英偉達的錯。”在最近的高盛會議上，他曾透露這些芯片將在第四季度發(fā)貨。（第一財經）

責編張喜威

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